JEM-2100F

设备简介：

JEM 2100F 是一款先进的透射电子显微镜，束斑尺寸在0.5nm以下，可以快速地获得高分辨率图像，使原子尺度的结构分析更简便。

主要参数：

高亮度肖特基场发射电子枪，探针尺寸<0.2 nm

TEM模式下点分辨率为0.23 nm，具有明场和环形暗场探测器

放大倍数：50 ~ 1,500,000

测试项目：

应用于纳米尺度的显微形貌、晶体结构和相组织的观察与分析;

各种材料微区化学成分的定性和半定量检测;

粉末、纳米粒子形态和粒度测定;

复合材料界面特性的研究。

样品要求：

(1)仅接收材料类样品;

(2)样品不得具有磁性、放射性、毒性和腐蚀性;

(3)样品须经充分干燥并具有一定的稳定性，须确保当受到电子束照射时不产生挥发性、腐蚀性物质;

测试时间：

2~4周

测试结果类型：

数据结果以DM3格式呈现，需下载Gatan DigitalMicrograph软件进行处理。