在电力设备和电子制造领域，线圈作为关键组件，其性能的稳定性和可靠性直接关系到整个系统的运行效率和安全性。

　　线圈类产品（如变压器、电机等）由于绕线材料、磁性材料、骨架、加工工艺等因素的影响，可能会出现匝间绝缘不良、短路、断路等故障，这些故障不仅会降低设备的性能，还可能引发严重的安全事故。因此，对线圈的质量进行严格的检测和评估显得尤为重要。

　　TH2884脉冲式线圈测试仪是采用高速采样技术研制的新一代线圈类产品绝缘性能的分析测试仪器。

　　TH2884将标准线圈的采样波形存储于仪器中，并在测试时，会将被测线圈的测试波形与标准波形比较，根据设定的判据（面积、面积差、电晕、相位差等方式），以此来判断被测试线圈的性能是否达标或优劣程度。

　　A.0.1μH低电感怎么测？

　　TH2884脉冲式线圈测试仪是针对低感量绕线元件设计研发，最小可测试0.1μH线圈的层间、匝间短路，为电子元件的质量控制提供了强有力的技术支撑。

　　低感量线圈测试时相对常规线圈测试，更容易受测试线的等效电感分压影响，TH2884脉冲式线圈测试仪采用双同轴四端测试（激励与采样各两端）的方式，可以采集到待测件两端的真实信号。

　　由于低感量线圈的实际工作电压较低，测试中也需要用到低压脉冲。TH2884设计电压为10V-1000V，最低测试电压达10V，因此可有效提高低感量线圈的测试分辨能力。

　　B.如何提前判断潜在不良？

　　试前测试是在正式测试前先以较低的电压测试被测件，并利用最大毛刺及波峰差来判断被测件是否有潜在的微短路不良。以防止正式测试的较大电压烧蚀内部微短路处后绝缘改善引起的误判。

　　C.什么是线圈脉冲测试法？

　　线圈脉冲测试法是对绕线元件施加一个非破坏性、高速、低能量的电压脉冲。

　　储能电容C1与被测绕线元件并联后，加载脉冲电压产生LC谐振，通过观察谐振衰减可了解绕线元件内部线圈状态（含绝缘、电感及并联电容等）。

　　用相同电容储存相同电压，再通过相同宽度的脉冲放电施加至被测与标准线圈，比较两者因电感量和Q值产生的电压衰减波形，可判线圈优劣。

　　上图中的自激振荡衰减波形与线圈L值、Q值紧密相关，反映圈数、工艺差异及材质。高压脉冲放电可判定绕组或磁芯绝缘不良。

　　当线圈匝间或者层间出现下列情况时，会呈现不同波形：

　　D.最多有几种波形比较？

　　TH2884脉冲线圈测试仪在原有基础上，将脉冲线圈测试的对比模式从四种扩充至九种，使得被测元件的波形能够与仪器内置的标准波形样本进行更为细致的对比，具体包括：面积对比、面积差对比、毛刺总量对比、最大毛刺对比、波峰比对比、波峰差对比、角频率、衰减系数对比以及品质因数对比。

上图为部分波形比较

　　E.破坏测试功能

　　虽然线圈匝间短路和层间短路测试与施加电压大小关系不是很大，但是线圈内绝缘状态测试中，施加的脉冲电压幅度是一个很重要的问题。如何设置合适的测试电压呢？

　　除了行业内的规定电压外，对于新品或试验性的，可以通过破坏测试功能来找到适合的测试电压。

　　TH2884脉冲式线圈测试仪集成了强大的功能、精密的测试手段、灵活的操作方法及多种接口方式，可为大多数线圈类产品提供测试解决方案。