TH2852系列射频阻抗分析仪&TH2853系列射频LCR测试仪正式上市！

当5G毫米波商用进入规模化落地关键期，6G太赫兹预研、第三代半导体材料攻关的节奏持续加快，国内科研与产业端长期面临的1-5GHz高精度射频测试“卡脖子”痛点，终于迎来本土化解决方案。由同惠电子基于三十余年阻抗测试技术积累打造的TH2852系列射频阻抗分析仪、TH2853系列射频LCR测试仪正式上市，为前沿领域的研发突破注入国产测量动力。

一、TH2852系列射频阻抗分析仪：全能型射频阻抗分析利器

TH2852系列射频阻抗分析仪专为需要洞悉器件本质特性的工程师设计，其核心性能参数如下：

（一）超宽频率范围与高分辨率

测试频率：1MHz – 5GHz，能够适配 HF 到 C 波段范围内绝大多数射频工程应用场景。

频率设置分辨率：1mHz，能够在极窄的频带内进行精细扫描，满足晶体谐振器、声表面波滤波器等对频率精度要求极高的测量需求。

对比传统电桥，射频IV法无需复杂平衡校准，直接采样实时计算，从根源规避高频寄生参数引发的相位漂移与杂散误差，完美适配中高频、射频乃至微波频段精密测量。TH2852系列射频阻抗分析仪四项核心指标全面超越国际同类产品，为射频测试提供高效精准的国产替代新选择。

（二）宽广的阻抗测量范围与高精度

阻抗测量范围：120 mΩ ～ 60 kΩ，兼顾低阻抗功率器件与高阻抗材料特性分析。

基本精度：±0.3%（典型值），确保了测试结果的绝对可信，满足了从研发验证到质量控制的高标准要求。

测试速度：最快达 0.4 ms/点，可在毫秒级内完成单点测量，大幅提升产线效率。

（三）深度分析功能矩阵

TH2852系列射频阻抗分析仪内置多种高级分析与选件功能，可满足不同应用场景的深入测试：

曲线扫描功能：该功能将射频器件的复杂行为可视化，为深入分析和诊断提供最直接的依据。

TH2852系列拥有十分强大的扫频功能，能在1MHz-5GHz下进行曲线扫描。

等效电路分析测试：复杂射频结构直接电磁场仿真算力大、耗时长，等效电路分析可将其抽象化为简化模型，精准复现端口参数，是高效系统仿真的核心基础。

现实生活中不同类型的器件可以被等效成简单的三参数四种模型、四参数三种模型的阻抗器件，等效电路分析测试功能提供了7种基本的电路模型用于等效这些器件。

介电常数分析（选件）‍：该功能揭示了材料与电场相互作用的全貌，是介质材料高频特性设计的基础。

TH2852系列支持介质材料介电常数、介质损耗分析，需选购测试夹具及分析软件。

磁导率测量（选件）‍ ：该功能解锁了材料对磁场响应的窗口，是开发射频磁性材料和器件的关键。

TH2852系列支持磁性材料磁导率测试，在主机的基础上，需选配测试夹具及磁导率分析软件。

史密斯圆图功能：史密斯圆图（Smith Chart）是射频 / 微波工程统一处理阻抗、导纳、反射系数的图解工具。

一张图就能完成：阻抗匹配、传输线计算、驻波比、反射损耗、负载变换、匹配网络设计。

二、TH2853系列射频LCR测试仪：精准、易用、可靠的产线与实验室伙伴

TH2853系列以实用型定位，聚焦于高频LCR参数的精确、快速、直观测量，是产线检测与日常实验室测试的不二之选。

（一）核心参数

测试频率：1 MHz – 5 GHz，与TH2852系列同频覆盖，确保高频元件测试无死角。

频率设置分辨率：1 kHz，满足绝大多数标准射频LCR测试的步进需求。

基本测量项目：电容（C）、电感（L）、电阻（R）、阻抗（|Z|）、品质因数（Q）、损耗因数（D）、相位角（θ）等。

（二）三种模式

点测模式：在单一频率下快速读取被测元件的LCR参数；

列表扫描模式：设定多个频率点，一次性读取不同频率下的参数。

曲线扫描模式：清晰展示阻抗、相位等关键曲线随频率的变化，方便您快速评估宽带器件的性能。

TH2853系列的操作界面经精心设计，即使是初次接触射频LCR测试的用户也能快速上手。

三、应用场景：从产线到实验室，赋能射频生态

两款新品的发布，弥补了国内在5GHz射频阻抗分析仪与高频LCR测试仪的产品空白。其典型应用场景包括：

无线通信：5G/6G基站天线调谐、手机端射频前端模块（PA、滤波器、双工器）的输入输出阻抗匹配。

汽车电子：车载雷达的天线与传输线特性分析、高频连接器测试。

半导体与材料：LTCC/HTCC基板介电常数与损耗角正切测量、铁氧体材料磁导率表征、EMI抑制磁珠的频率特性分析。

四、2年内免费享1次专业校准服务

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以本土技术支撑，筑牢射频研发测量根基

射频阻抗测量技术迭代始终紧跟通信产业变革，国产仪器正式突破5GHz大关，绝非频率数字升级，而是射频I-V法、高精度校准算法等核心技术的全面突破，彻底打破海外垄断。TH2852系列射频阻抗分析仪&TH2853系列射频LCR测试仪，将为半导体器件测试、材料表征筑牢国产高端仪器的底层支撑。